Linux串口测试是从入门到精通需要从多方面涉及，它不仅涉及知识方面，更涉及实操方面。以下是Linux串口测试从入门到精通需要掌握的基本内容。
首先，要进行Linux串口测试，需要熟悉Linux操作系统的安装、使用和维护，以及Linux系统上常用的工具，例如Shell及其相关知识。
其次，在测试之前，需要了解相关串口设备型号，以及熟悉其参数和使用方法。
接下来，要使用相关知识，使用Linux操作系统和Shell等工具，进行Linux串口测试任务，就要开始操作，此时就要熟悉如何通过Linux操作系统对串口设备进行配置，让其正确地接入系统，以及如何查看其操作状态，以及如何使用shell命令操作串口设备。下面给出4个常用命令，用于查看当前Linux所支持的串口设备：
dmesg | grep tty
setserial -g /dev/tty*
ls -l /dev/tty*
cat /proc/tty/driver/serial
接下来，针对测试任务，可以利用串口调试助手（比如minicom或gtkterm）来发送和接收数据信息，以便评估系统的表现。
最后，要想从入门到精通，还需要熟悉Linux串口测试中更多的知识，如常用串口通信协议知识，如RS232、RS485，Linux串口编程知识等等。当掌握这些知识之后，人们就能将相关资源，整合到一起，实现多设备之间的串口通信应用，从而更深入地探究Linux串口测试。
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怎样测量进口轴承径向游隙
在一些特定的高温环境中的设备上往往需要耐高温的、大游隙的进口轴承，但用户怎样测量进口轴承径向的游隙呢？下面简单介绍一下：（1）测量过程中,应保证球落入沟底;闭型进口轴承在封闭前测量;采用有荷仪器时,测值还应减去载荷引起的游隙增加量。 （2）对于多列球进口轴承，要求每列游隙合格，取各列游隙的算术平均值作为进口轴承的径向游隙。 （3） 尽可能采用专用仪器测量法；（4）采用手推法测量要求测量者有较高的测量技能。 此法测量误差较大，尤其是游隙处于边缘状态时，容易引起误差，此时，应以仪器测量为准；（5）塞尺测量时，应按标准的规定操作，不得使用滚子从塞尺上滚压过去的方法测量。
POST自检测代码含义是什么？
当系统检测到相应的错误时，会以两种方式进行报告，即在屏幕上显示出错信息或以报警声响次数的方式来指出检测到的故障。 CMOS battery failed（CMOS 电池失效）。 原因：说明CMOS 电池的电力已经不足，请更换新的电池。 CMOS check sum error－Defaults loaded（CMOS 执行全部检查时发现错误，因此载入预设的系统设定值）。 原因：通常发生这种状况都是因为电池电力不足所造成，所以不妨先换个电池试试看。 如果问题依然存在的话，那就说明 CMOS RAM 可能有问题，最好送回原厂处理。 Display switch is set incorrectly（显示开关配置错误）。 原因：较旧型的主板上有跳线可设定显示器为单色或彩色，而这个错误提示表示主板上的设定和 BIOS 里的设定不一致，重新设定即可。 Press ESC to skip memory test（内存检查，可按ESC键跳过）。 原因：如果在 BIOS 内并没有设定快速加电自检的话，那么开机就会执行内存的测试，如果你不想等待，可按 ESC 键跳过或到 BIOS 内开启 Quick Power On Self Test。 HARD DISK initializing【Please wait a moment...】（硬盘正在初始化 请等待片刻）。 原因：这种问题在较新的硬盘上根本看不到。 但在较旧的硬盘上，其启动较慢，所以就会出现这个问题。 HARD DISK INSTALL FAILURE （硬盘安装失败）。 原因：硬盘的电源线、数据线可能未接好或者硬盘跳线不当出错误 ( 例如一根数据线上的两个硬盘都设为 Master 或 Slave。 ) Secondary slave hard fail （检测从盘失败）。 原因： 1. CMOS 设置不当（例如没有从盘但在CMOS里设有从盘） 2. 硬盘的电源线、数据线可能未接好或者硬盘跳线设置不当。 Hard disk(s) diagnosis fail (执行硬盘诊断时发生错误)。 原因：这通常代表硬盘本身的故障。 你可以先把硬盘接到另一台电脑上试一下，如果问题一样，那只好送修了。 Floppy Disk(s) fail 或 Floppy Disk(s) fail(80) 或Floppy Disk(s) fail(40)（无法驱动软驱）。 原因：软驱的排线是否接错或松脱？电源线有没有接好？如果这些都没问题，那买个新的吧。 Keyboard error or no keyboard present(键盘错误或者未接键盘) 原因：键盘连接线是否插好？连接线是否损坏？Memory test fail (内存检测失败)原因：通常是因为内存不兼容或故障所导致。 Override enable－Defaults loaded ( 当前CMOS设定无法启动系统，载入 BIOS 预设值以启动系统)。 原因：可能是你在BIOS内的设定并不适合你的电脑( 像你的内存只能跑100MHz但你让它跑133MHz )，这时进入 BIOS 设定重新调整即可。 Press TAB to show POST screen (按 TAB 键 可以切换屏幕显示)原因：有一些 OEM 厂商会以自己设计的显示画面来取代 BIOS 预设的开机显示画面，而此提示就是要告诉使用者可以按TAB来把厂商的自定义画面和BIOS预设的开机画面进行切换。 Resuming from disk，Press TAB to show POST screen（从硬盘恢复开机，按TAB显示开机自检画面）。 原因：某些主板的BIOS 提供了 Suspend to disk(挂起到硬盘)的功能，当使用者以 Suspend to disk 的方式来关机时，那么在下次开机时就会显示此提示消息。 BIOS ROM checksum error-System halted(BIOS程序代码在进行总和检查( checksum)时发现错误，因此无法开机)原因：遇到这种问题通常是因为 BIOS 程序代码更新不完全所造成的，解决办法重新刷写烧坏主板 BIOS。 HARD DISK initizlizing 【Please wait a moment...】(正在对硬盘做起始化 ( Initizlize ) 动作)原因：这种讯息在较新的硬盘上根本看不到。 但在较旧型的硬盘上，其动作因为较慢，所以就会看到这个讯息。
检测电解电容耐压跟漏电流的标准是什么？
电容的耐压，表示电容在一定条件下连续使用所能承受的电压。 如果加在电容上的工作电压超过额定电压，电容内部的绝缘介质就有可能被击穿，造成极片间短路或严重漏电。 因此，电容的工作电压不能大于其额定耐压，以保证电路可靠工作。 对于电解电容器，漏电流是性能指标中重要的一项。 电解电容的漏电流与电压的关系密切，漏电流随工作电压的增高而增大。 当工作电压接近阳极的赋能电压时，漏电流会急剧上升。 通过测试电解电容的漏电电流，可以推算出它的极限耐压和额定耐压，对于电路中电容耐压的取值，有直接的参考意义。 根据这个原理，笔者设计并制作了～款电容耐压测试仪，其线路简单、成本低廉、制作容易，较好地解决了业余条件下电容耐压测试的问题。 变压器T1和T2型号相同，背靠背对接，提供高低压两组电源，并起到隔离作用。 低压的经整流滤波后，由R1、DWl、Q1、Ral～Ral 1组成电流可调的恒流源。 高压的经整流滤波后由Rbl～RblO、DW2分压，Q2输出可调的直流电压。 使用时选择合适的电压Uc和电流Jc，将被测电容接到Cxa、Cxb两点上，此时会看到电压表指针缓慢偏转，达到一定的位置后静止，指针所指的电压即为该电容在漏电电流为lc时所承受的耐压。 波段开关K3、K4（各单挡11位）分别是测试电压和电流（即漏电流）选择开关，其测试量程如表1所示。 表2为测试电路中的元件清单。 一、测试电路的使用方法1.将测试电压调到比电容额定电压高一些的挡位。 如测试35V的申容。 可将挡位放到64V，测试50v的电容，可将挡位放到64M或96V.挡位高一些对测试结果影响不大，只是挡位越高，三极管Q1的功耗相应会大一些。 2.选择合适的测试电流。 测试电流应根据电容容量来选择，容量越大测试电流也越大。 对于4700μF以上的电容，可选择大于10mA的测试电流；对于1000～4700μF的电，容，可选择5mA左右的测试电流：对于10μF以下的电容，可选择0.2～1mA的测试电流。 3.红色鳄鱼夹接电容正极，黑色鳄鱼夹接电容负极。 接好后看到电压表指针先匀速缓慢偏转。 正常情况下偏转位置应超过额定电压，当达到某一值时其指针偏转变慢，并且越来越慢，最终静止下来，此时电容的漏电流等于Q1集电极的恒流电流，电压表所指示的电压，为此电容在漏电电流为Ic时所承受的耐压，可粗略认为是该电容的极限耐压。 4.测试完毕后将开关K2闭合，待电容放电后取下。 表3是利用附图的测试电路测量的部分电解电容器的产品实例。 二、测试经验总结1.电容容量越大，测试电流（漏电流）也应相应变大。 国产的铝电解电容器，在额定电压6.3～450V，标称容量10～680μF时，漏电流可按下列公式计算：I≤（KxCxU）／1000公式中：I为漏电流（mA）；K为系数（20℃±5℃时，K=O.03）；U为额定工作电压（V）；C为标称容量（μF）；2.由于电解电容器只能单向工作，如将电解电容正负端接反测试，在5mA电流下测试其电压会极低，大约只有4V左右。 3.长期不用的电解电容器，由于氧化膜的分解，容量、耐压都有一定的衰减，在第一次使用时，应先加低压（1／2额定耐压）老化一段时间（等效电解电容器的赋能）。 4.同样的容量和耐压的电解电容器，其体积较大、分量较重的一般耐压性能更好些；同样的容量和耐压的电解电容器，其相同的测试电流，电压指针偏转快的，漏电流较小。 5.正品电解电容极限耐压一般为其额定电压的120％左右。 6.当工作电压高于额定电压时，电容就较容易击穿。 因此选用电解电容时，应使额定电压高于实际工作电压，并要预留一定的余量，以应付电压的波动。 一般情况下，额定电压应高于实际工作电压的10％～20％，对于工作电压稳定性较差的电路，可酌情预留更大的余量。 7.使用本电路测试电解电容器，不会造成电容的损坏。 三、测试电路的改进1.由于没有购买到合适的电压表头，DC250V以上挡不能指示。 如果能够换成DC320v表头就比较理想。 表头量程也不宜太大，否则会降低分辨率，用这样的表头去测试低耐压电容时，会造成读数偏差太大。 2.为了取得更准确的测试电压，可将Rbl～Rbl0分压电阻换成相应稳压值的稳压管（加限流电阻）或多圈精密可调电阻。 3.V1若换成数字式电压表，电压读数将更加直观、精确。 不过需另外加装一组DC5v浮动电源。 4.恒流电阻Ral～Rall，若用一只47∞电阻串联一只4.7kΩ多圈精密电位器代替后，其恒流值（1.1～12mA）可连续可调。
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